什麼是半導體探針

㈠ 半導體探針和在線測試探針有什麼不一樣的

你好，請看下抄面就可以對比出外觀上的不同，半導體探針的設計結合了產品的導電性能和硬質度，從而形成了一種可具力量分布均勻和高適應性能的產品，南谷的雙頭探針可以優秀地鏈接在BGA測試端和PCB板之間。而後者應用於在線測試，空板測試，汽車，航空領域，以及高頻探針，高電流探針，開關針等。

在線測試針:

㈡ 感測器和探針的原理都一樣嗎兩者有什麼區別

感測器是一種檢測裝置，一般由敏感元件、轉換元件、變換電路和輔版助電源四部分組成。傳權感器能感受到被測量的信息，並能將感受到的信息，按一定規律變換成為電信號或其他所需形式的信息輸出，以滿足信息的傳輸、處理、存儲、顯示、記錄和控制等要求。
探針就是電測試的接觸媒介，為高端精密型電子五金元器件。作為測試針，用於測試PCBA的一種探針，表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。大電流彈片微針模組就是測試探針的一種類型，可用於3C鋰電池、手機屏幕、攝像頭、BTB/FPC連接器的測試，主要起到導通電流和傳輸信號的作用，是電子測試中較為重要的電子元件。

㈢ 要用測試探針的是什麼工廠

測試探針的用途較廣，根據電子測試的用途，可將探針分為：
光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路測試探針；
在線測試探針：PCB線路板安裝元器件後的測試探針；
微電子測試探針：即晶圓測試或晶元IC測試探針。
根據測試探針的種類，可分為：
1.ICT探針：主要用於在線電路測試和功能測試，也稱ICT測試和FCT測試，是目應用較多的一種探針。
2.界面探針：非標準的探針，一般是為少數做大型測試機台的客戶定做的，用於測試機台與測試夾具的接觸點和面。
3.微型探針：兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm。
4.開關探針：開關探針單獨一支探針有兩路電流。
5.高頻探針：用於測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的，還有500MHz不帶屏蔽圈的。
6.旋轉探針：彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用於OSP處理過的PCBA測試。
7.高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps。
8.半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大於10GHz,50Ω characteristic。
9.電池接觸探針：一般用於優化接觸效果，穩定性好和壽命長。
10.汽車線束測試探針：專業用於汽車線束通斷檢測，直徑在1.0-3.5mm之間，電流在3-50A。
除了以上幾種類型的探針外，還有比較少用的溫度探針，Kelvin探針等。
以上提到的需要用到測試治具和需要進行電子測試的都會用到測試探針。大電流彈片微針模組是測試探針的一種，在電子測試中，用於手機電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測試。

㈣ 探針有哪些種類可以運用在什麼地方

探針種類有很多，有醫療類，氣象類，地理類等等，這些都是電子成品為主，下面講一下測試類電子電路類。
測試類電子電路主要有射頻針，BGA，ATE，FCT以及MDA/ICT等等，主要是應用在MDA/ICT/Function等相關主板檢測治具，可在生產過程中將不良主板檢測出來。
射頻就是射頻電流，是一種高頻交流變化電磁波的簡稱，對於GSM、WCDMA、CDMA2000及藍牙（bluetooth）、wifi、wimax等的測試統屬於RF測試，多為無線通訊。
BGA是在封裝體基板的底部製作陣列焊球作為電路的I/O端與印刷線路板（PCB）互接。用LH（台灣錂鋐）半導體探針或模組來檢測讀寫程式設計。
ATE通常為流線測試設備，測試於半導體產業意指積體電路（IC）自動測試機，用於檢測積體電路功能之完整性，為積體電路生產製造之最後流程，以確保積體電路生產製造之品質。
FCT就是功能測試，在ICT測試OK後，就可以進行功能測試，看PCBA是否工作正常，達到設計的功能。主要用於被測物的轉接後測試，簡化人工插拔的動作，提升生產效率。
ICT/MDA主要用於被測物的測貼透過探針轉接後測試，可體測項目如：檢測Open.short，電阻阻值量測，電容容值量測，電感感量量測，二極體量測，電晶體量測，電壓量測，IC量測，路線量測等檢測。

㈤ 直流四探針法測量半導體的電阻率的原理是什麼有什麼需要注意的嘛

意思就是要用歐姆表去直接測量. 歐姆表就是自身產生一個弱電流, 去測量探針兩版端的電壓, 然後和自身的體權電阻比較, 最後給出電阻值. 但是這對於半導體是不準確的, 半導體電阻無法用兩根探針測量的主要原因是:
1．接觸電阻的影響嚴重。探針與半導體接觸產生一定厚度的耗盡層，耗盡層是高阻的, 另外探針和半導體之間不像與金屬之間一樣很好的接觸, 還會產生一個額外的電阻, 稱為擴展電阻，兩者都是接觸電阻，通常都很大. 半導體的實際電阻相對於它們越小, 測量結果就越不準確.
2．存在少子電注入.

專用方法：四探針法, 兩根探針輸入測量電流, 另外兩根探針測量電壓分布.
要是懂電流計, 電壓計和電阻計的原理, 就能更明白了.

㈥ 半導體探針在IC測試治具中起到什麼作用

1、增強治具的耐用度
IC測試探針的的設計使得其彈簧空間比常規探針的要大回，所以能獲得更長答的壽命。

2、不間斷電接觸設計
行程超過有效行程（2/3行程）或者一般行程時都能夠保持較低的接觸阻抗，消除因探針造成的假性開路造成的誤判。

3、提高了測試精度

IC測試針因為更加精細，通常直徑都是0.58mm以下，總長不超過6毫米，所以能夠達到同規格產品更好的精準度。

IC測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；採用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達2000MHz。http://ic.big-bit.com/

㈦ 連接器中的探針與檢測用的探針有什麼區別

你好，請看下面就可以對比出外觀上的不同，半導體探針的設計結合了回產品的導電性能和硬質答度，從而形成了一種可具力量分布均勻和高適應性能的產品，南谷的雙頭探針可以優秀地鏈接在BGA測試端和PCB板之間。而後者應用於在線測試，空板測試，汽車，航空領域，以及高頻探針，高電流探針，開關針等。 在線測試針: 半導體探針：

㈧ 探針是什麼呀

probe
定義1：(1)分子生物學和生物化學實驗中用於指示特定物質(如核酸、蛋白質、細胞結構等)的性質或物理狀態的一類標記分子。(2)一些儀器的探測器。如pH探頭、離子探頭等。所屬學科：生物化學與分子生物學（一級學科）；方法與技術（二級學科）
定義2：用生物素或放射性元素標記的核苷酸片段。所屬學科： 水產學（一級學科）；水產生物育種學（二級學科）
定義3：在分子雜交中用來檢測互補序列的帶有標記的單鏈DNA或RNA片段。所屬學科：細胞生物學（一級學科）；細胞生物學技術（二級學科）
定義4：在分子雜交中用來檢測互補序列的帶有標記的單鏈DNA或RNA片段。所屬學科：遺傳學（一級學科）；分子遺傳學（二級學科）
試驗探針
1、 試具A探針：ZLT-I01
產品概述：
符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標准要求。用於防止手背觸及的防護檢驗。
●可訂制帶50±5N推力。

2、 標准試驗指：ZLT-I02
產品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標准要求。用於防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
●可訂制帶10±1N推力。

3、直徑50圓擋板標准試驗指：ZLT-I02A
產品概述：
符合GB4706-1：20.2、IEC60335-1：20.2條款要求，擋板為直徑50㎜圓擋板，其他尺寸與ZLT-I02相同。

4、直徑125大擋板試驗指：ZLT-I02B
產品概述：
符合GB4706-30：20.2、IEC60335-2-14：20.2條款要求，擋板為直徑125㎜圓擋板，從試驗指尖端到擋板距離為100㎜，其他尺寸與ZLT-I02相同。

5、試具C探針：ZLT-I03
產品概述：
符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標准要求。用於防止手持工具觸及的防護檢驗。
●可訂制帶3±0.3N推力。

7、 試具D探針：ZLT-I04
產品概述：
符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標准要求。用於防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
●可訂制帶1±0.1N推力。

8、 試驗鋼球：ZLT-I05
產品概述：
符合IEC61032圖5試具1、IEC60529IP1、GB4208IP1 等標准要求， 直徑為50+0.05。用以檢驗防止直徑大於等於50㎜的固異物進入設備內部。
●可訂制帶手柄。

8、試驗鋼球：ZLT-I06
產品概述：
符合IEC61032圖6試具2、IEC60529IP2、GB4208IP2 等標准要求,直徑為12.5+0。2。用以檢驗防止直徑大於等於12.5的固異物進入設備內部。
● 可訂制帶手柄。

9、試驗直指：ZLT-I07/I07A
產品概述：
符合IEC61032圖7試具11、GB/T16842試具11、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000、IEC60335、GB4706等標准要求。用於檢驗防止人體觸及部件，也可用於檢驗外殼的孔或外殼內部擋板的機械強度。
ZLT-I07A帶有非圓形限位板，其他尺寸與ZLT-I07相同。
●可訂制帶10～50N推力，型號：ZLT-TZ1
●可訂制帶10～75N推力，型號：ZLT-TZ2
●可訂制帶 5～30N推力，型號：ZLT-TZ3

10、試驗長銷：ZLT-I08
產品概述：
符合IEC61032圖8試具12、GB/T16842試具12等標准要求，用於檢驗帶電部件或機械部件是否被觸及。

11、 試驗銷：ZLT-I09
產品概述：
符合IEC61032圖9試具13、GB/T16842試具13、IEC60950圖2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標准，用於檢驗0類設備和Ⅱ類設備中危險的帶電部件是否被觸及。

12、 試具14探針：TZL-I10
產品概述：
符合IEC61032圖10試具14要求，用於檢驗通過電氣插座的防護外罩能否觸及內部的危險帶電部件，配尼龍手柄。

13、 試具17探針：ZLT-I11
產品概述：
符合IEC61032圖11試具17要求，用於檢驗電動玩具的帶電部件是否被觸及，配尼龍手柄。

14、 兒童試驗指：ZLT-I12
產品概述：
符合IEC61032圖12試具18要求，用於模擬大於36個月而小於14歲的兒童是否觸及危險部件。

15、 兒童試驗指：ZLT-I13
產品概述：
符合IEC61032圖13試具19要求，用於模擬36個月及以下的兒童是否觸及危險部件。

16、 試具31探針：ZLT-I14
產品概述：
符合IEC61032圖14試具31、GB/T16842試具31要求，用於檢驗殘剩餘食品處理裝置的碾磨系統的危險機械部件是否被觸及。

17、 試具32探針：ZTL-I15
產品概述：
符合IEC61032圖15試具32、GB/T16842試具32要求，用於檢驗風扇外罩的防止觸及危險機械部件的作用，配尼龍手柄。

18、 試驗探針：ZLT-I16
產品概述：
符合IEC61032圖16試具41、GB/T16842試具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標准要求，用於檢驗灼熱部件被觸及。

19、 試具43探針：ZLT-I17
產品概述：
符合IEC61032圖17試具43、GB/T16842試具43等標准要求，用於檢驗固定式或攜帶型可見熱輻射取曖器的保護。

20、 試驗鉤：ZLT-I18
產品概述：
符合GB8898圖4、IEC60065圖4等標准要求，用於檢驗危險帶電零部件是否被觸及。

21、 天線同軸插座機械試驗用試驗插頭：ZLT-I19
產品概述：
符合GB8898圖8、IEC60065圖8等標准要求，用於檢驗安裝在設備上而且裝有將危險帶電件與可觸及零部件隔離的零部件或元器件的天線同軸插座，其結構應能承受在預期使用時可能會遇到的機械應力。

22、 帶推力試驗探針：ZLT-I20
產品概述：
符合GB2099-2008圖9、IEC60884圖9等標准要求，用於檢驗帶保護門的插座的帶電部件是否觸及。
●尺寸：3×1㎜，長80㎜，20N推力。

23、 帶推力試驗探針：ZLT-I21
產品概述：
符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標准要求，用於對帶保護門的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗。
●尺寸：直徑1㎜，長80㎜，1N推力。

24、 試驗指甲：ZLT-I22
產品概述：
符合IEC60335圖7、GB4706.1圖7等標准要求，適用於對電擊水或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經受得住正常使用中出現的機械應力，達到規定防護等級進行測試的設備，可施加10N、20N、30N三種測試力。

25、試驗探頭：ZLT-I23
產品概述：
符合IEC60950圖2C、GB4943圖2C、IEC60065、GB8898等標准要求，用於對信息技術設備的TNV電路的裸露部件是否有足夠的保護。

26、直徑8試驗探棒：ZLT-P01
產品概述：
符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等標准條款要求，直徑:8㎜，長:80㎜，配手柄。

27、直徑75鋼球探針：ZLT-P02
產品概述：
符合IEC60335-2-24：21.102條款、GB4703.13:21.102條款要求，用於檢驗家電產品上的燈是否合格。
●鋼球直徑：75㎜，可訂制帶手柄。

28、劃痕工具：ZLT-P03
產品概述：
符合IEC60335-2-24圖102、GB4706.13圖102等標准要求，用於對家電中所有受保護冷卻系統的易觸及元件表面，包括與受保護冷卻系統緊密接觸的易觸及表面進行刮擦試驗。

29、試具探針：ZLT-P04
產品概述：符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等標准條款要求。
●尺寸：直徑4㎜，長100㎜。

30、直徑3試驗探針：ZLT-P05
產品概述：
符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等標准要求，用於對操作微波爐的隱蔽的門聯鎖裝置。
●尺寸：直徑3㎜，長100㎜。

㈨ 探針是什麼用於哪些方面

DNA探針，一般是帶有標記基因的DNA鏈，它和待檢的DNA鏈結合來檢測某些基因的存在，用在醫學上可以檢測基因遺傳病（原理簡單，就像拼圖一樣）。

㈩ 分子探針是什麼

以分子雜交為基礎的抄技術均用探針來檢測具有互補序列的核酸序列。探針既可以是克隆的或PCR擴增的DNA分子，也可以是人工合成的寡聚核苷酸或經體外轉錄的RNA分子。探針必須是純一的，不含有其他不同的核酸。為了保證通過鹼基互補來檢測目的基因，探針必須為單鏈分子。所以雙鏈的DNA探針在應用前必須變為單鏈，一般採用加熱的方法使雙鏈DNA探針變性，原為單鏈的寡聚核苷酸和RNA探針的RNA分子無需變性處理即可使用。用放射性同位素標記探針，則雜交分子可通過放射自顯影技術進行觀測。近代，人們發展了非放射性同位素標記系統，常用的探針標記系統是用甾類化合物地高辛配基標記探針。