半導體封裝測試中CS代表什麼
① 我想了解,表面應力測試儀中,cs值,dol值~ct值分別代表什麼意思,具體指的是什麼
據我的了解,玻璃行業表面應力測試儀中的CS值代表「表面應力」,DOL值代表「離子交換深度」,CT值代表「中心應力」,T值代表「厚度」;希望這些回答能對你有所幫助。
② 半導體、封裝測試是干什麼的
是對半導體封裝測試所使用的機器的維修與保養。一般情況下,機器會出現一些小問回題,但是操作工是解答決不了的,在這種情況下,技術員會幫他們解決。還有就是定期對機器進行保養,如清掃上油等。我也是一家半導體公司的技術員,所以比較了解。
③ 半導體的RG、Cs測試是什麼
這個應該指MOS管的參數,Rg是指柵極電阻,Cs是指輸入電容這個網上有比較全的測試方法網頁鏈接。
④ 半導體封裝測試品是什麼意思
1.有可能是剛封裝完畢的材料,即還未final test的封裝驗證mmy
2.有可能是已經完成封裝,並且到專了final test,作為final test的試驗樣品。屬
如有疑問,可qq咨詢,我是做測試的
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⑤ 半導體封裝測試中一些英文名字的解釋
你可以去中國半導體論壇逛逛,裡面有很多資料這方面的資料。
⑥ 半導體封裝里,英文縮寫TF代表什麼工序
半導體封裝里,英文縮寫TF代表什麼工序
Thin film薄膜區,晶元生產最後一道工序,\
之後就是測試了
⑦ 半導體封裝,半導體封裝是什麼意思
半導體封裝簡介:
半導體生產流程由晶圓製造、晶圓測試、晶元封裝和封裝後測試組成。半導體封裝是指將通過測試的晶圓按照產品型號及功能需求加工得到獨立晶元的過程。封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝後,被切割為小的晶片(Die),然後將切割好的晶片用膠水貼裝到相應的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細的金屬(金、錫、銅、鋁)導線或者導電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond Pad)連接到基板的相應引腳(Lead),並構成所要求的電路;然後再對獨立的晶片用塑料外殼加以封裝保護,塑封之後,還要進行一系列操作,如後固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及列印等工藝。封裝完成後進行成品測試,通常經過入檢(Incoming)、測試(Test)和包裝(Packing)等工序,最後入庫出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 列印 切筋和成型 外觀檢查 成品測試 包裝出貨。
1 半導體器件封裝概述
電子產品是由半導體器件(集成電路和分立器件)、印刷線路板、導線、整機框架、外殼及顯示等部分組成,其中集成電路是用來處理和控制信號,分立器件通常是信號放大,印刷線路板和導線是用來連接信號,整機框架外殼是起支撐和保護作用,顯示部分是作為與人溝通的介面。所以說半導體器件是電子產品的主要和重要組成部分,在電子工業有「工業之米"的美稱。
我國在上世紀60年代自行研製和生產了第一台計算機,其佔用面積大約為100 m2以上,現在的攜帶型計算機只有書包大小,而將來的計算機可能只與鋼筆一樣大小或更小。計算機體積的這種迅速縮小而其功能越來越強大就是半導體科技發展的一個很好的佐證,其功勞主要歸結於:(1)半導體晶元集成度的大幅度提高和晶圓製造(Wafer fabrication)中光刻精度的提高,使得晶元的功能日益強大而尺寸反而更小;(2)半導體封裝技術的提高從而大大地提高了印刷線路板上集成電路的密集度,使得電子產品的體積大幅度地降低。
半導體組裝技術(Assembly technology)的提高主要體現在它的封裝型式(Package)不斷發展。通常所指的組裝(Assembly)可定義為:利用膜技術及微細連接技術將半導體晶元(Chip)和框架(Leadframe)或基板(Sulbstrate)或塑料薄片(Film)或印刷線路板中的導體部分連接以便引出接線引腳,並通過可塑性絕緣介質灌封固定,構成整體立體結構的工藝技術。它具有電路連接,物理支撐和保護,外場屏蔽,應力緩沖,散熱,尺寸過度和標准化的作用。從三極體時代的插入式封裝以及20世紀80年代的表面貼裝式封裝,發展到現在的模塊封裝,系統封裝等等,前人已經研究出很多封裝形式,每一種新封裝形式都有可能要用到新材料,新工藝或新設備。
驅動半導體封裝形式不斷發展的動力是其價格和性能。電子市場的最終客戶可分為3類:家庭用戶、工業用戶和國家用戶。家庭用戶最大的特點是價格便宜而性能要求不高;國家用戶要求高性能而價格通常是普通用戶的幾十倍甚至幾千倍,主要用在軍事和航天等方面;工業用戶通常是價格和性能都介於以上兩者之間。低價格要求在原有的基礎上降低成本,這樣材料用得越少越好,一次性產出越大越好。高性能要求產品壽命長,能耐高低溫及高濕度等惡劣環境。半導體生產廠家時時刻刻都想方設法降低成本和提高性能,當然也有其它的因素如環保要求和專利問題迫使他們改變封裝型式。
2 封裝的作用
封裝(Package)對於晶元來說是必須的,也是至關重要的。封裝也可以說是指安裝半導體集成電路晶元用的外殼,它不僅起著保護晶元和增強導熱性能的作用,而且還是溝通晶元內部世界與外部電路的橋梁和規格通用功能的作用。封裝的主要作用有:
(1)物理保護。因為晶元必須與外界隔離,以防止空氣中的雜質對晶元電路的腐蝕而造成電氣性能下降,保護晶元表面以及連接引線等,使相當柔嫩的晶元在電氣或熱物理等方面免受外力損害及外部環境的影響;同時通過封裝使晶元的熱膨脹系數與框架或基板的熱膨脹系數相匹配,這樣就能緩解由於熱等外部環境的變化而產生的應力以及由於晶元發熱而產生的應力,從而可防止晶元損壞失效。基於散熱的要求,封裝越薄越好,當晶元功耗大於2W時,在封裝上需要增加散熱片或熱沉片,以增強其散熱冷卻功能;5~1OW時必須採取強製冷卻手段。另一方面,封裝後的晶元也更便於安裝和運輸。
(2)電氣連接。封裝的尺寸調整(間距變換)功能可由晶元的極細引線間距,調整到實裝基板的尺寸間距,從而便於實裝操作。例如從以亞微米(目前已達到0.1 3μm以下)為特徵尺寸的晶元,到以10μm為單位的晶元焊點,再到以100μm為單位的外部引腳,最後劍以毫米為單位的印刷電路板,都是通過封裝米實現的。封裝在這里起著由小到大、由難到易、由復雜到簡單的變換作用,從而可使操作費用及材料費用降低,而且能提高工作效率和可靠性,特別是通過實現布線長度和阻抗配比盡可能地降低連接電阻,寄生電容和電感來保證正確的信號波形和傳輸速度。
(3)標准規格化。規格通用功能是指封裝的尺寸、形狀、引腳數量、間距、長度等有標准規格,既便於加工,又便於與印刷電路板相配合,相關的生產線及生產設備都具有通用性。這對於封裝用戶、電路板廠家、半導體廠家都很方便,而且便於標准化。相比之下,裸晶元實裝及倒裝目前尚不具備這方面的優勢。由於組裝技術的好壞還直接影響到晶元自身性能的發揮和與之連接的印刷電路板(PCB)的設計和製造,對於很多集成電路產品而言,組裝技術都是非常關鍵的一環。
3 封裝的分類
半導體(包括集成電路和分立器件)其晶元的封裝已經歷了好幾代的變遷,從DIP、SOP、QFP、PGA、BGA到MCP再到SIP,技術指標一代比一代先進,包括晶元面積與封裝面積之比越來越接近於1,適用頻率越來越高,耐溫性能越來越好,引腳數增多,引腳間距減小,重量減小,可靠性提高,使用更加方便等等。封裝(Package)可謂種類繁多,而且每一種封裝都有其獨特的地方,即它的優點和不足之處,當然其所用的封裝材料、封裝設備、封裝技術根據其需要而有所不同。
⑧ 什麼是半導體封裝測試
1、半導體生產流程由晶圓製造、晶圓測試、晶元封裝和封裝後測試組成。半導體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產品型號及功能需求加工得到獨立晶元的過程。
2、封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝後,被切割為小的晶片(Die),然後將切割好的晶片用膠水貼裝到相應的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細的金屬(金、錫、銅、鋁)導線或者導電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond
Pad)連接到基板的相應引腳(Lead),並構成所要求的電路;然後再對獨立的晶片用塑料外殼加以封裝保護,塑封之後,還要進行一系列操作,如後固化(Post
Mold
Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及列印等工藝。封裝完成後進行成品測試,通常經過入檢(Incoming)、測試(Test)和包裝(Packing)等工序,最後入庫出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片→
裝片→
鍵合→
塑封→
去飛邊→
電鍍
→列印→
切筋→成型→
外觀檢查→
成品測試→
包裝出貨。
3、半導體器件有許多封裝形式,按封裝的外形、尺寸、結構分類可分為引腳插入型、表面貼裝型和高級封裝三類。從DIP、SOP、QFP、PGA、BGA到CSP再到SIP,技術指標一代比一代先進。總體說來,半導體封裝經歷了三次重大革新:第一次是在上世紀80年代從引腳插入式封裝到表面貼片封裝,它極大地提高了印刷電路板上的組裝密度;第二次是在上世紀90年代球型矩陣封裝的出現,滿足了市場對高引腳的需求,改善了半導體器件的性能;晶元級封裝、系統封裝等是現在第三次革新的產物,其目的就是將封裝面積減到最小。
4、半導體封裝形式:金屬封裝、陶瓷封裝、金屬+陶瓷封裝、塑料封裝(最主要的封裝形式)
⑨ 半導體封裝里,英文縮寫TF代表什麼工序
Thin film薄膜區,晶元生產最後一道工序,之後就是測試了
⑩ 半導體封測 是什麼
半導體生產流程由晶圓製造、晶圓測試、晶元封裝和封裝後測試組成。半導體封測是指將通過測試的晶圓按照產品型號及功能需求加工得到獨立晶元的過程。
封裝過程為:
來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝後,被切割為小的晶片,然後將切割好的晶片用膠水貼裝到相應的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細的金屬(金、錫、銅、鋁)導線或者導電性樹脂將晶片的接合焊盤連接到基板的相應引腳,並構成所要求的電路;然後再對獨立的晶片用塑料外殼加以封裝保護。
塑封之後,還要進行一系列操作,如後固化、切筋和成型、電鍍以及列印等工藝。封裝完成後進行成品測試,通常經過入檢、測試、和包裝、等工序,最後入庫出貨。
典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 列印 切筋和成型 外觀檢查 成品測試 包裝出貨。
(10)半導體封裝測試中CS代表什麼擴展閱讀:
半導體封裝測試的形式:
半導體器件有許多封裝形式,按封裝的外形、尺寸、結構分類可分為引腳插入型、表面貼裝型和高級封裝三類。從DIP、SOP、QFP、PGA、BGA到CSP再到SIP,技術指標一代比一代先進。
半導體封裝經歷了三次重大革新:
1、在上世紀80年代從引腳插入式封裝到表面貼片封裝,它極大地提高了印刷電路板上的組裝密度;
2、在上世紀90年代球型矩陣封裝的出現,滿足了市場對高引腳的需求,改善了半導體器件的性能;
3、晶元級封裝、系統封裝等是現在第三次革新的產物,其目的就是將封裝面積減到最小。