半導體探針是什麼意思

A. 四探針法測半導體電阻率時，不同量程下讀數的關系。

對同一個測量點，「在電壓量程2V，電流量程100mA時的讀數與電壓量程200mV,電流10mA時的讀數」是一版樣的。
在以上兩種權方式下，如不影響讀數精度，一般選「電壓量程200mV,電流10mA」的方式測量，以避免電流過大產生更多的非平衡載流子，影響測量結果。

B. 直流四探針法測量半導體的電阻率的原理是什麼有什麼需要注意的嘛

意思就是要用歐姆表去直接測量. 歐姆表就是自身產生一個弱電流, 去測量探針兩版端的電壓, 然後和自身的體權電阻比較, 最後給出電阻值. 但是這對於半導體是不準確的, 半導體電阻無法用兩根探針測量的主要原因是:
1．接觸電阻的影響嚴重。探針與半導體接觸產生一定厚度的耗盡層，耗盡層是高阻的, 另外探針和半導體之間不像與金屬之間一樣很好的接觸, 還會產生一個額外的電阻, 稱為擴展電阻，兩者都是接觸電阻，通常都很大. 半導體的實際電阻相對於它們越小, 測量結果就越不準確.
2．存在少子電注入.

專用方法：四探針法, 兩根探針輸入測量電流, 另外兩根探針測量電壓分布.
要是懂電流計, 電壓計和電阻計的原理, 就能更明白了.

C. 四探針測試半導體電阻率時通多大的電流合適

10mA好像

D. 如何測半導體電阻率

半導體電阻率的多種測量方法應用與注意事項依據摻雜水平的不同，半導體材料可能有很高的電阻率。有幾種因素可能會使測量這些材料電阻率的工作復雜化，其中包括與材料實現良好接觸的問題。已經設計出專門的探頭來測量半導體晶圓片和半導體棒的電阻率。這些探頭通常使用硬金屬，如鎢來製作，並將其磨成一個探針。在這種情況下接觸電阻非常高，所以應當使用四點同線（collinear）探針或者四線隔離探針。其中兩個探針提供恆定的電流，而另外兩個探針測量一部分樣品上的電壓降。利用被測電阻的幾何尺寸因素，就可以計算出電阻率。 看起來這種測量可能是直截了當的，但還是有一些問題需要加以注意。對探針和測量引線進行良好的屏蔽是非常重要的，其理由有三點： 1 電路涉及高阻抗，所以容易受到靜電干擾。 2 半導體材料上的接觸點能夠產生二極體效應，從而對吸收的信號進行整流，並將其作為直流偏置顯示出來。 3 材料通常對光敏感。 四探針技術 四點同線探針電阻率測量技術用四個等距離的探針和未知電阻的材料接觸。此探針陣列放在材料的中央。圖4-25是這種技術的圖示。

為了避免泄漏電流，使用隔離的或者帶保護的探頭與樣品接觸。電流源應當處於保護模式。

E. 四探針法測量半導體電阻率和薄層電阻的問題

意思就來是要用歐姆表自去直接測量. 歐姆表就是自身產生一個弱電流, 去測量探針兩端的電壓, 然後和自身的體電阻比較, 最後給出電阻值. 但是這對於半導體是不準確的, 半導體電阻無法用兩根探針測量的主要原因是:
1．接觸電阻的影響嚴重。探針與半導體接觸產生一定厚度的耗盡層，耗盡層是高阻的, 另外探針和半導體之間不像與金屬之間一樣很好的接觸, 還會產生一個額外的電阻, 稱為擴展電阻，兩者都是接觸電阻，通常都很大. 半導體的實際電阻相對於它們越小, 測量結果就越不準確.
2．存在少子電注入.

專用方法：四探針法, 兩根探針輸入測量電流, 另外兩根探針測量電壓分布.
要是懂電流計, 電壓計和電阻計的原理, 就能更明白了.

F. 半導體探針在IC測試治具中起到什麼作用

1、增強治具的耐用度
IC測試探針的的設計使得其彈簧空間比常規探針的要大回，所以能獲得更長答的壽命。

2、不間斷電接觸設計
行程超過有效行程（2/3行程）或者一般行程時都能夠保持較低的接觸阻抗，消除因探針造成的假性開路造成的誤判。

3、提高了測試精度

IC測試針因為更加精細，通常直徑都是0.58mm以下，總長不超過6毫米，所以能夠達到同規格產品更好的精準度。

IC測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；採用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達2000MHz。http://ic.big-bit.com/

G. 四探針法測量半導體電阻率和薄層電阻的問題

意思就是要復用歐姆表去直制接測量.
歐姆表就是自身產生一個弱電流,
去測量探針兩端的電壓,
然後和自身的體電阻比較,
最後給出電阻值.
但是這對於半導體是不準確的,
半導體電阻無法用兩根探針測量的主要原因是:
1．接觸電阻的影響嚴重。探針與半導體接觸產生一定厚度的耗盡層，耗盡層是高阻的,
另外探針和半導體之間不像與金屬之間一樣很好的接觸,
還會產生一個額外的電阻,
稱為擴展電阻，兩者都是接觸電阻，通常都很大.
半導體的實際電阻相對於它們越小,
測量結果就越不準確.
2．存在少子電注入.
專用方法：四探針法,
兩根探針輸入測量電流,
另外兩根探針測量電壓分布.
要是懂電流計,
電壓計和電阻計的原理,
就能更明白了.

H. 為什麼四探針測半導體電阻率時樣品要磨成粗糙的表面

為了使金屬探針與半導體表面接觸時形成歐姆接觸。這是由於粗糙的表面存在很多復合中心， 晶格電子你可以去看看

I. 半導體探針和在線測試探針有什麼不一樣的

你好，請看下抄面就可以對比出外觀上的不同，半導體探針的設計結合了產品的導電性能和硬質度，從而形成了一種可具力量分布均勻和高適應性能的產品，南谷的雙頭探針可以優秀地鏈接在BGA測試端和PCB板之間。而後者應用於在線測試，空板測試，汽車，航空領域，以及高頻探針，高電流探針，開關針等。

在線測試針:

J. 半導體測試探針台步進值怎麼確定

這個是物理問題，然後你可以去問一下你的物理老師。然後這個的話我也不是特別的清楚。