什么是半导体探针

㈠ 半导体探针和在线测试探针有什么不一样的

你好，请看下抄面就可以对比出外观上的不同，半导体探针的设计结合了产品的导电性能和硬质度，从而形成了一种可具力量分布均匀和高适应性能的产品，南谷的双头探针可以优秀地链接在BGA测试端和PCB板之间。而后者应用于在线测试，空板测试，汽车，航空领域，以及高频探针，高电流探针，开关针等。

在线测试针:

㈡ 传感器和探针的原理都一样吗两者有什么区别

传感器是一种检测装置，一般由敏感元件、转换元件、变换电路和辅版助电源四部分组成。传权感器能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。
探针就是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。作为测试针，用于测试PCBA的一种探针，表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。大电流弹片微针模组就是测试探针的一种类型，可用于3C锂电池、手机屏幕、摄像头、BTB/FPC连接器的测试，主要起到导通电流和传输信号的作用，是电子测试中较为重要的电子元件。

㈢ 要用测试探针的是什么工厂

测试探针的用途较广，根据电子测试的用途，可将探针分为：
光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路测试探针；
在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的测试探针；
微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC测试探针。
根据测试探针的种类，可分为：
1.ICT探针：主要用于在线电路测试和功能测试，也称ICT测试和FCT测试，是目应用较多的一种探针。
2.界面探针：非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，用于测试机台与测试夹具的接触点和面。
3.微型探针：两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm。
4.开关探针：开关探针单独一支探针有两路电流。
5.高频探针：用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的，还有500MHz不带屏蔽圈的。
6.旋转探针：弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试。
7.高电流探针：探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps。
8.半导体探针：直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic。
9.电池接触探针：一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长。
10.汽车线束测试探针：专业用于汽车线束通断检测，直径在1.0-3.5mm之间，电流在3-50A。
除了以上几种类型的探针外，还有比较少用的温度探针，Kelvin探针等。
以上提到的需要用到测试治具和需要进行电子测试的都会用到测试探针。大电流弹片微针模组是测试探针的一种，在电子测试中，用于手机电池、屏幕、摄像头等连接器模组测试。

㈣ 探针有哪些种类可以运用在什么地方

探针种类有很多，有医疗类，气象类，地理类等等，这些都是电子成品为主，下面讲一下测试类电子电路类。
测试类电子电路主要有射频针，BGA，ATE，FCT以及MDA/ICT等等，主要是应用在MDA/ICT/Function等相关主板检测治具，可在生产过程中将不良主板检测出来。
射频就是射频电流，是一种高频交流变化电磁波的简称，对于GSM、WCDMA、CDMA2000及蓝牙（bluetooth）、wifi、wimax等的测试统属于RF测试，多为无线通讯。
BGA是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板（PCB）互接。用LH（台湾錂鋐）半导体探针或模组来检测读写程式设计。
ATE通常为流线测试设备，测试于半导体产业意指积体电路（IC）自动测试机，用于检测积体电路功能之完整性，为积体电路生产制造之最后流程，以确保积体电路生产制造之品质。
FCT就是功能测试，在ICT测试OK后，就可以进行功能测试，看PCBA是否工作正常，达到设计的功能。主要用于被测物的转接后测试，简化人工插拔的动作，提升生产效率。
ICT/MDA主要用于被测物的测贴透过探针转接后测试，可体测项目如：检测Open.short，电阻阻值量测，电容容值量测，电感感量量测，二极体量测，电晶体量测，电压量测，IC量测，路线量测等检测。

㈤ 直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么有什么需要注意的嘛

意思就是要用欧姆表去直接测量. 欧姆表就是自身产生一个弱电流, 去测量探针两版端的电压, 然后和自身的体权电阻比较, 最后给出电阻值. 但是这对于半导体是不准确的, 半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.

专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.

㈥ 半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

1、增强治具的耐用度
IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大回，所以能获得更长答的寿命。

2、不间断电接触设计
行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。http://ic.big-bit.com/

㈦ 连接器中的探针与检测用的探针有什么区别

你好，请看下面就可以对比出外观上的不同，半导体探针的设计结合了回产品的导电性能和硬质答度，从而形成了一种可具力量分布均匀和高适应性能的产品，南谷的双头探针可以优秀地链接在BGA测试端和PCB板之间。而后者应用于在线测试，空板测试，汽车，航空领域，以及高频探针，高电流探针，开关针等。 在线测试针: 半导体探针：

㈧ 探针是什么呀

probe
定义1：(1)分子生物学和生物化学实验中用于指示特定物质(如核酸、蛋白质、细胞结构等)的性质或物理状态的一类标记分子。(2)一些仪器的探测器。如pH探头、离子探头等。所属学科：生物化学与分子生物学（一级学科）；方法与技术（二级学科）
定义2：用生物素或放射性元素标记的核苷酸片段。所属学科： 水产学（一级学科）；水产生物育种学（二级学科）
定义3：在分子杂交中用来检测互补序列的带有标记的单链DNA或RNA片段。所属学科：细胞生物学（一级学科）；细胞生物学技术（二级学科）
定义4：在分子杂交中用来检测互补序列的带有标记的单链DNA或RNA片段。所属学科：遗传学（一级学科）；分子遗传学（二级学科）
试验探针
1、 试具A探针：ZLT-I01
产品概述：
符合IEC61032图1试具A、GB16842试具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等标准要求。用于防止手背触及的防护检验。
●可订制带50±5N推力。

2、 标准试验指：ZLT-I02
产品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883图1、IEC61032图2试具B、IEC950图2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842试具B、UL507、EN60529图1、UL1278图8.4等标准要求。用于防止手指触及或防触电检验的防护检验。
●可订制带10±1N推力。

3、直径50圆挡板标准试验指：ZLT-I02A
产品概述：
符合GB4706-1：20.2、IEC60335-1：20.2条款要求，挡板为直径50㎜圆挡板，其他尺寸与ZLT-I02相同。

4、直径125大挡板试验指：ZLT-I02B
产品概述：
符合GB4706-30：20.2、IEC60335-2-14：20.2条款要求，挡板为直径125㎜圆挡板，从试验指尖端到挡板距离为100㎜，其他尺寸与ZLT-I02相同。

5、试具C探针：ZLT-I03
产品概述：
符合IEC61032图2试具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842试具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持工具触及的防护检验。
●可订制带3±0.3N推力。

7、 试具D探针：ZLT-I04
产品概述：
符合IEC61032图4试具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842试具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持金属丝触及的防护检验。
●可订制带1±0.1N推力。

8、 试验钢球：ZLT-I05
产品概述：
符合IEC61032图5试具1、IEC60529IP1、GB4208IP1 等标准要求， 直径为50+0.05。用以检验防止直径大于等于50㎜的固异物进入设备内部。
●可订制带手柄。

8、试验钢球：ZLT-I06
产品概述：
符合IEC61032图6试具2、IEC60529IP2、GB4208IP2 等标准要求,直径为12.5+0。2。用以检验防止直径大于等于12.5的固异物进入设备内部。
● 可订制带手柄。

9、试验直指：ZLT-I07/I07A
产品概述：
符合IEC61032图7试具11、GB/T16842试具11、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000、IEC60335、GB4706等标准要求。用于检验防止人体触及部件，也可用于检验外壳的孔或外壳内部挡板的机械强度。
ZLT-I07A带有非圆形限位板，其他尺寸与ZLT-I07相同。
●可订制带10～50N推力，型号：ZLT-TZ1
●可订制带10～75N推力，型号：ZLT-TZ2
●可订制带 5～30N推力，型号：ZLT-TZ3

10、试验长销：ZLT-I08
产品概述：
符合IEC61032图8试具12、GB/T16842试具12等标准要求，用于检验带电部件或机械部件是否被触及。

11、 试验销：ZLT-I09
产品概述：
符合IEC61032图9试具13、GB/T16842试具13、IEC60950图2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准，用于检验0类设备和Ⅱ类设备中危险的带电部件是否被触及。

12、 试具14探针：TZL-I10
产品概述：
符合IEC61032图10试具14要求，用于检验通过电气插座的防护外罩能否触及内部的危险带电部件，配尼龙手柄。

13、 试具17探针：ZLT-I11
产品概述：
符合IEC61032图11试具17要求，用于检验电动玩具的带电部件是否被触及，配尼龙手柄。

14、 儿童试验指：ZLT-I12
产品概述：
符合IEC61032图12试具18要求，用于模拟大于36个月而小于14岁的儿童是否触及危险部件。

15、 儿童试验指：ZLT-I13
产品概述：
符合IEC61032图13试具19要求，用于模拟36个月及以下的儿童是否触及危险部件。

16、 试具31探针：ZLT-I14
产品概述：
符合IEC61032图14试具31、GB/T16842试具31要求，用于检验残剩余食品处理装置的碾磨系统的危险机械部件是否被触及。

17、 试具32探针：ZTL-I15
产品概述：
符合IEC61032图15试具32、GB/T16842试具32要求，用于检验风扇外罩的防止触及危险机械部件的作用，配尼龙手柄。

18、 试验探针：ZLT-I16
产品概述：
符合IEC61032图16试具41、GB/T16842试具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准要求，用于检验灼热部件被触及。

19、 试具43探针：ZLT-I17
产品概述：
符合IEC61032图17试具43、GB/T16842试具43等标准要求，用于检验固定式或便携式可见热辐射取暧器的保护。

20、 试验钩：ZLT-I18
产品概述：
符合GB8898图4、IEC60065图4等标准要求，用于检验危险带电零部件是否被触及。

21、 天线同轴插座机械试验用试验插头：ZLT-I19
产品概述：
符合GB8898图8、IEC60065图8等标准要求，用于检验安装在设备上而且装有将危险带电件与可触及零部件隔离的零部件或元器件的天线同轴插座，其结构应能承受在预期使用时可能会遇到的机械应力。

22、 带推力试验探针：ZLT-I20
产品概述：
符合GB2099-2008图9、IEC60884图9等标准要求，用于检验带保护门的插座的带电部件是否触及。
●尺寸：3×1㎜，长80㎜，20N推力。

23、 带推力试验探针：ZLT-I21
产品概述：
符合GB2099-2008图10、IEC60884图10等标准要求，用于对带保护门的带电部件及有加强保护插座的带电部件的不可触及性的检验。
●尺寸：直径1㎜，长80㎜，1N推力。

24、 试验指甲：ZLT-I22
产品概述：
符合IEC60335图7、GB4706.1图7等标准要求，适用于对电击水或接触运动部件的不可拆卸零件能否经受得住正常使用中出现的机械应力，达到规定防护等级进行测试的设备，可施加10N、20N、30N三种测试力。

25、试验探头：ZLT-I23
产品概述：
符合IEC60950图2C、GB4943图2C、IEC60065、GB8898等标准要求，用于对信息技术设备的TNV电路的裸露部件是否有足够的保护。

26、直径8试验探棒：ZLT-P01
产品概述：
符合IEC60335-2-14：20.102、GB4706-30：20.102等标准条款要求，直径:8㎜，长:80㎜，配手柄。

27、直径75钢球探针：ZLT-P02
产品概述：
符合IEC60335-2-24：21.102条款、GB4703.13:21.102条款要求，用于检验家电产品上的灯是否合格。
●钢球直径：75㎜，可订制带手柄。

28、划痕工具：ZLT-P03
产品概述：
符合IEC60335-2-24图102、GB4706.13图102等标准要求，用于对家电中所有受保护冷却系统的易触及元件表面，包括与受保护冷却系统紧密接触的易触及表面进行刮擦试验。

29、试具探针：ZLT-P04
产品概述：符合IEC60065：9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等标准条款要求。
●尺寸：直径4㎜，长100㎜。

30、直径3试验探针：ZLT-P05
产品概述：
符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706：22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等标准要求，用于对操作微波炉的隐蔽的门联锁装置。
●尺寸：直径3㎜，长100㎜。

㈨ 探针是什么用于哪些方面

DNA探针，一般是带有标记基因的DNA链，它和待检的DNA链结合来检测某些基因的存在，用在医学上可以检测基因遗传病（原理简单，就像拼图一样）。

㈩ 分子探针是什么

以分子杂交为基础的抄技术均用探针来检测具有互补序列的核酸序列。探针既可以是克隆的或PCR扩增的DNA分子，也可以是人工合成的寡聚核苷酸或经体外转录的RNA分子。探针必须是纯一的，不含有其他不同的核酸。为了保证通过碱基互补来检测目的基因，探针必须为单链分子。所以双链的DNA探针在应用前必须变为单链，一般采用加热的方法使双链DNA探针变性，原为单链的寡聚核苷酸和RNA探针的RNA分子无需变性处理即可使用。用放射性同位素标记探针，则杂交分子可通过放射自显影技术进行观测。近代，人们发展了非放射性同位素标记系统，常用的探针标记系统是用甾类化合物地高辛配基标记探针。