能隙的半导体是什么意思
Ⅰ 半导体能带隙数值 能说明半导体导电能力强弱么
一般来说宽度的大小能够决定本征载流子的浓度,从而决定了电阻率,也就是导电能力强弱wuxm0618(站内联系TA)只能说明本征材料的导电能力很弱,在有杂质或者缺陷的情况下可能还是有好的导电性能。混沌学徒(站内联系TA)带隙越窄越接近金属吧,越宽就越接近绝缘体回归2011(站内联系TA)紫外漫反射边通过F(R)hv2对hv作图,通过紫外可以测试半导体的带隙,这种称之为光学带隙,一般论文里都是这样做的。
而氧化铜确实是一种半导体薄膜。氧化亚铜也是。均可以作为薄膜太阳能电池材料,尽管效率比较低。
Ⅱ 直接带隙和间接带隙是怎么回事
直接带隙指的是半导体的导带最小值与价带最大值对应k空间中同一位置,价带电子跃迁到导带不需要声子的参与,只需要吸收能量。
间接带隙半导体材料导带最小值(导带底)和满带最大值在k空间中不同位置。形成半满能带不只需要吸收能量,还要改变动量。电子在k状态时的动量是(h/2pi)k,k不同,动量就不同,从一个状态到另一个必须改变动量。
两者的区别是:直接带隙的半导体导带上电子是由价带受激发直接跃迁导致的,而间接带隙的半导体导带上的电子是由价带受激发跃迁至导带后还要有个弛豫的过程才能到导带底。这个过程中会有一部分能量以声子的形式浪费掉,从能量利用的角度上来说,直接带隙的半导体对光的利用率更好。
ZnO具有直接带隙半导体材料的这种只需要吸收能量的特点,它是这种跃迁类型是由它这种材料本身决定的。样品的直接带隙和间接带隙是轨道理论判断的。
(2)能隙的半导体是什么意思扩展阅读
直接带隙半导体的重要性质:当价带电子往导带跃迁时,电子波矢不变,在能带图上即是竖直地跃迁,这就意味着电子在跃迁过程中,动量可保持不变——满足动量守恒定律。相反,如果导带电子下落到价带(即电子与空穴复合)时,也可以保持动量不变——直接复合,即电子与空穴只要一相遇就会发生复合(不需要声子来接受或提供动量)。
因此,直接带隙半导体中载流子的寿命必将很短;同时,这种直接复合可以把能量几乎全部以光的形式放出(因为没有声子参与,故也没有把能量交给晶体原子) ——发光效率高(这也就是为什么发光器件多半采用直接带隙半导体来制作的根本原因)。
间接带隙半导体的重要性质:简单点说,从能带图谱可以看出,间接带隙半导体中的电子在跃迁时K值会发生变化,这意味着电子跃迁前后在K空间的位置不一样了,这样会极大的几率将能量释放给晶格,转化为声子,变成热能释放掉。而直接带隙中的电子跃迁前后只有能量变化,而无位置变化,于是便有更大的几率将能量以光子的形式释放出来。
另一方面,对于间接跃迁型,导带的电子需要动量与价带空穴复合。因此难以产生基于再结合的发光。想让间接带隙材料发光,可以采用掺杂引入发光体,将能量引入发光体使其发光(提高发光效率)。
Ⅲ 什么叫零带隙半导体
这说的是石墨烯 半导体有导带,禁带,价带。。。 所谓零带隙就指的是禁带宽度为零
Ⅳ 什么是宽带隙半导体材料
宽带隙半导体,一般把室温下带隙大于2.0eV的半导体材料归类于宽带隙半专导体,宽带隙半导体在蓝、属紫光和紫外光电子器件,高频、高温、高功率电子器件及场发射器件方面应用广泛。
室温下,Si的带隙为1.1eV,GaAs的带隙为1.43eV,一般把室温下带隙大于2.0eV的半导体材料归类于宽带隙半导体,宽带隙半导体在蓝、紫光和紫外光电子器件,高频、高温、高功率电子器件及场发射器件方面应用广泛。
Ⅳ 直接带隙半导体
直接带隙半导体抄材料就是导带最小值(导带底)和满带最大值在k空间中同一位置.电子要跃迁到导带上产生导电的电子和空穴(形成半满能带)只需要吸收能量.
间接带隙半导体材料导带最小值(导带底)和满带最大值在k空间中不同位置.形成半满能带不只需要吸收能量,还要改变动量.
间接带隙半导体材料导带最小值(导带底)和满带最大值在k空间中不同位置.电子在k状态时的动量是(h/2pi)k,k不同,动量就不同,从一个状态到另一个必须改变动量.
Ⅵ 如何确定半导体是直接带隙还是间接带隙的
确定半导体是直接带隙还是间接带隙的可以用光致发光光谱。
光效率很大的话差专不多就是直接带隙,发光效率低属的话就是间接带隙。直接带隙材料吸收光谱应该能比较明显地区分出本征吸收带和吸收边,变化相对较缓,而间接带隙材料比较陡峭。
间接带隙半导体材料(如Si、Ge)导带最小值(导带底)和满带最大值在k空间中不同位置。形成半满能带不只需要吸收能量,还要改变动量。
电子在k状态时的动量是(h/2pi)k,k不同,动量就不同,从一个状态到另一个必须改变动量。与之相对的直接带隙半导体则是电子在跃迁至导带时不需要改变动量。
(6)能隙的半导体是什么意思扩展阅读:
光致发光过程包括荧光发光和磷光发光。通常用于半导体检测和表征的光致发光光谱指的是光致荧光发光。
光致发光特点:
1、光致发光优点
设备简单,无破坏性,对样品尺寸无严格要求;分辨率高,可做薄层和微区分析。
2、光致发光缺点
通常只能做定性分析,而不作定量分析;如果做低温测试,需要液氦降温,条件比较苛刻;不能反映出非辐射复合的深能级缺陷中心。
Ⅶ 关于半导体中的直接带隙与间接带隙
简单的说直接带隙半导体就是导带最低点和价带最高点在k空间处于同一点的半导体,间接带隙半导体就是它们不处于同一点的半导体。你可以看一下下面的参考资料
Ⅷ 半导体能隙怎么测量
有多种方法。例如测量本征光吸收限——本征激发的最长波长。又如测量本征载流子浓度与温度的关系,在半对数坐标上,该关系是一条直线,由该直线的斜率即可得到禁带宽度。
Ⅸ 直接带隙半导体的介绍
直接带隙半导体(Direct gap semiconctor)的例子:GaAs、InP半导体。相反,Si、Ge是间接带隙半导体。