半导体探针是什么意思

A. 四探针法测半导体电阻率时，不同量程下读数的关系。

对同一个测量点，“在电压量程2V，电流量程100mA时的读数与电压量程200mV,电流10mA时的读数”是一版样的。
在以上两种权方式下，如不影响读数精度，一般选“电压量程200mV,电流10mA”的方式测量，以避免电流过大产生更多的非平衡载流子，影响测量结果。

B. 直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么有什么需要注意的嘛

意思就是要用欧姆表去直接测量. 欧姆表就是自身产生一个弱电流, 去测量探针两版端的电压, 然后和自身的体权电阻比较, 最后给出电阻值. 但是这对于半导体是不准确的, 半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.

专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.

C. 四探针测试半导体电阻率时通多大的电流合适

10mA好像

D. 如何测半导体电阻率

半导体电阻率的多种测量方法应用与注意事项依据掺杂水平的不同，半导体材料可能有很高的电阻率。有几种因素可能会使测量这些材料电阻率的工作复杂化，其中包括与材料实现良好接触的问题。已经设计出专门的探头来测量半导体晶圆片和半导体棒的电阻率。这些探头通常使用硬金属，如钨来制作，并将其磨成一个探针。在这种情况下接触电阻非常高，所以应当使用四点同线（collinear）探针或者四线隔离探针。其中两个探针提供恒定的电流，而另外两个探针测量一部分样品上的电压降。利用被测电阻的几何尺寸因素，就可以计算出电阻率。 看起来这种测量可能是直截了当的，但还是有一些问题需要加以注意。对探针和测量引线进行良好的屏蔽是非常重要的，其理由有三点： 1 电路涉及高阻抗，所以容易受到静电干扰。 2 半导体材料上的接触点能够产生二极管效应，从而对吸收的信号进行整流，并将其作为直流偏置显示出来。 3 材料通常对光敏感。 四探针技术 四点同线探针电阻率测量技术用四个等距离的探针和未知电阻的材料接触。此探针阵列放在材料的中央。图4-25是这种技术的图示。

为了避免泄漏电流，使用隔离的或者带保护的探头与样品接触。电流源应当处于保护模式。

E. 四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题

意思就来是要用欧姆表自去直接测量. 欧姆表就是自身产生一个弱电流, 去测量探针两端的电压, 然后和自身的体电阻比较, 最后给出电阻值. 但是这对于半导体是不准确的, 半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.

专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.

F. 半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

1、增强治具的耐用度
IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大回，所以能获得更长答的寿命。

2、不间断电接触设计
行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。http://ic.big-bit.com/

G. 四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题

意思就是要复用欧姆表去直制接测量.
欧姆表就是自身产生一个弱电流,
去测量探针两端的电压,
然后和自身的体电阻比较,
最后给出电阻值.
但是这对于半导体是不准确的,
半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的,
另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触,
还会产生一个额外的电阻,
称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大.
半导体的实际电阻相对于它们越小,
测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.
专用方法：四探针法,
两根探针输入测量电流,
另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计,
电压计和电阻计的原理,
就能更明白了.

H. 为什么四探针测半导体电阻率时样品要磨成粗糙的表面

为了使金属探针与半导体表面接触时形成欧姆接触。这是由于粗糙的表面存在很多复合中心， 晶格电子你可以去看看

I. 半导体探针和在线测试探针有什么不一样的

你好，请看下抄面就可以对比出外观上的不同，半导体探针的设计结合了产品的导电性能和硬质度，从而形成了一种可具力量分布均匀和高适应性能的产品，南谷的双头探针可以优秀地链接在BGA测试端和PCB板之间。而后者应用于在线测试，空板测试，汽车，航空领域，以及高频探针，高电流探针，开关针等。

在线测试针:

J. 半导体测试探针台步进值怎么确定

这个是物理问题，然后你可以去问一下你的物理老师。然后这个的话我也不是特别的清楚。